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TEST 01 - 制造临时日志 TEST 02 - 格式化和测试错误日志 磁头和电路校正测试 TEST 03 - 伺服校正信息 TEST 04 - 斜波加载/卸载测试 TEST 05 - 传感器滞后测试 TEST 06 - 磁头切换测试 TEST 07 - RUNOUT补偿测试 TEST 08 - 当检查伺服错误时盘上写入2T类型 TEST 09 - 磁头低飞显示 TEST 0A - 磁头稳定性测试 TEST 0C - 读取伺服缺陷测试位置 TEST 0D - 重学RRO ZAP测试 TEST 0E - 寻找跳过柱面测试(还未实现过) TEST 0F - 当前写测试 磁头和电路校正测试 TEST 10 - 1E, 2A - 2E 适配区域#(最后区域)通过 0 -所有磁头 TEST 1F - 显示适配性,VCO,和DIODE温度设置 TEST 2F - 显示FIR适应性设置 伺服性能验证测试 TEST 20, TEST 60 - 伺服访问次数 TEST 21, TEST 25 - RRO/NRRO 测试 TEST 23 - 开始/停止 (10次) TEST 24 - 开始/停止 (2000次) TEST 29 - 伺服缺陷扫描 缺陷查找和再分配测试 TEST 30 - 验证所有磁盘组读取,AT级 TEST 31 - 楔形缺陷扫描. 磁头 0-1无读取级,50写级 TEST 32 - 楔形缺陷扫描. 磁头 2-3无读取级,50写级 TEST 36 - 在对磁头0-1楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位 TEST 37 - 在对磁头2-3楔形扫描中查找出来的缺陷进行定位 TEST 3A - 使用1重复读取所有磁头抛光和缺陷测试,重复50次 TEST 3B - 建立缺陷表;填充受损磁头0,1 TEST 3C - 建立缺陷表;填充受损磁头2,3 TEST 3D - 建立缺陷表;填充受损磁头4,5 TEST 3E - 建立缺陷表;填充受损磁头6,7 TEST 3F - 回送测试,写通过测试 错误率性能测试 TEST 40- 开始/停止(10次) TEST 41- 磁道侵入 TEST 42- SPIN STAND模拟器- 区域较小错误碧绿 TEST 43- RAM 测试 TEST 46- 数据编译比率 TEST 47- 冷写/磁道擦除显示 TEST 48- 错误率,写通过 TEST 49- 写/读/比较(零式样) TEST 4A- 补偿系数检测 TEST 4B- 读 TEST 4B -所有磁道冷写显示 TEST 4C- 磁头飞行高度测量 TEST 4D- 收集自动FA数据 TEST 4E- 检查积累健康和创建自检概要 TEST 4F- 失败磁盘测试 TEST 50- 通过磁盘测试 特殊测试 TEST 51 - 错误率 TEST 52 - 磁盘组写RRO 测试 TEST 54 - 拾取歪测 TEST 55 - 一百万随机读写 TEST 56 -写/读/比较(零式样) TEST 61,62,63- 制造可靠性测试 TEST 64- 磁头稳定性测试 TEST65,66,67 - 媒体延时测试 |