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[内存维修]

Memtest V1.7 ic fail 標識方法

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1#
发表于 2007-9-14 13:23:09 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式 来自: 北京 来自 北京

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一、for x 8 顆粒fail標試方法:

1.       從failing address看最後一碼,如果是數字0 or 8 代表fail ic在module前面四顆;如果數字是 4 or c 代表fail ic在module後面四顆。

2.       前後分出來後,再來是看那一顆。從Err-Bits下面有8個數字,下表為01000000,每二碼分別代表一顆ic,數字”00”代表顆粒ok,不是”00”代表顆粒fail,順序由左至右分別為4~1顆。

3.       如果有正背面問題,再加看failing address 後面第五碼,如果是0~7代表正面;如果是8~f代表背面。

4.       利用上述說明,那下表module fail ic為背面第四顆。

補充一、這看法有一定機率,不是100%,正面約8成,背面則6成準確率。

補充二、此看法適用於公板pcb,如果pcb不同則不一定適用。

補充三、只適用於單通道module。

2#
发表于 2007-9-14 13:24:47 | 只看该作者 来自: 北京 来自 北京
精品吧,看大家的評價!

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3#
发表于 2007-9-22 15:06:24 | 只看该作者 来自: 巴拉圭 来自 巴拉圭
謝謝 rst好像比較方便     

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4#
发表于 2007-9-24 22:20:37 | 只看该作者 来自: 辽宁沈阳 来自 辽宁沈阳
经验不错,但现在有修改MEMTEST86+的内核,制作出来的程序,可以直观显示坏的MEMORY。

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5#
发表于 2007-12-29 19:52:04 | 只看该作者 来自: 广东深圳 来自 广东深圳
好东西,收藏了,谢谢,DDRII是一样的吗?

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6#
发表于 2008-1-2 13:13:23 | 只看该作者 来自: 广西钦州 来自 广西钦州
好东西,一直在用Memtest
楼主的讲解---精辟

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7#
发表于 2008-3-4 22:38:40 | 只看该作者 来自: 江苏苏州 来自 江苏苏州
如果是*16bit IC做的单名条,也可以按这个方法吗?

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