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LA-F251P 进水按开机只有0.001左右的跳变,拆机检测发现进水痕迹,3V待机芯片及周围电路腐蚀,内存供电芯片及周围腐蚀,清理完腐蚀之后按开机故障依旧,测量发现3V待机芯片附近PR106腐蚀变质4.7欧姆变大至2M,更换后成功电至0.53,测量PLTRST,南桥读取了BIOS,但是在南桥通过smbus总线读取内存码片时没有抓取到波形,测量发现QC2工作正常有输入有输出拆掉也无断脚,最后发现是SMBDATA到内存槽断线,飞线连接后正常开机
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